Dalam pengembangan teknologi teknologi tinggi yang cepat, sebagai komponen inti dari peralatan elektronik, kinerja dan kualitas chip secara langsung terkait dengan daya saing dan kinerja pasar produk.
Namun, dengan kemajuan berkelanjutan dari proses semikonduktor dan meningkatnya kompleksitas fungsi chip, bagaimana memastikan bahwa setiap chip dapat memenuhi kinerja yang ketat dan persyaratan keandalan telah menjadi tantangan utama bagi produsen chip. Dalam konteks ini, pengujian tingkat sistem telah membawa terobosan revolusioner di bidang pengujian chip dengan lingkungan pengujian yang komprehensif dan simulasi.
1. SLT: tolok ukur baru untuk pengujian chip
Pengujian tingkat sistem, seperti namanya, adalah metode pengujian komprehensif pengukuran chip (DUT) dalam skenario penggunaan terminal simulasi. Dibandingkan dengan peralatan pengujian otomatis tradisional (ATE), SLT tidak lagi terbatas pada uji modul fungsional tunggal atau struktur sirkuit chip, tetapi tentang chip sebagai seluruh sistem, yang memverifikasi kemampuan kerja kooperatif dan kinerja keseluruhan modul tersebut dengan menjalankan program perangkat lunak dan operasi sistem yang sebenarnya. Metode pengujian ini lebih dekat dengan pengalaman penggunaan aktual pengguna, dan dapat menemukan masalah potensial yang sulit ditangkap dalam tes ATE, sehingga secara signifikan meningkatkan keandalan dan kepuasan pengguna chip.
2. Kekuatan inti SLT
Cakupan komprehensif:Dengan mensimulasikan skenario aplikasi nyata, SLT secara komprehensif menguji semua modul fungsional chip untuk memastikan bahwa setiap detail tidak terlewatkan.
Simulasi yang efisien:Menggunakan teknologi simulasi canggih dan peralatan uji, SLT dapat mensimulasikan lingkungan penggunaan terminal yang kompleks, termasuk berbagai antarmuka periferal, sistem operasi dan perangkat lunak aplikasi, sehingga tes lebih dekat dengan kenyataan.
Wawasan yang mendalam:SLT tidak hanya berfokus pada kinerja perangkat keras chip, tetapi juga berfokus pada uji interaksi perangkat lunak dan perangkat keras, yang dapat menemukan masalah potensial dalam pekerjaan kolaboratif perangkat keras dan perangkat lunak, dan menyediakan data yang berharga untuk mengoptimalkan desain chip.
Tingkatkan keandalan: Melalui pengujian lama dan beban tinggi, SLT dapat mengungkapkan kinerja chip dalam kondisi ekstrem, dan secara efektif mengevaluasi stabilitas dan keandalan penggunaan jangka panjangnya.
Grgtest berfokus pada teknologi analisis kegagalan sirkuit terintegrasi, dengan tim ahli terkemuka di industri dan peralatan seri GA Fib paling canggih di pasaran. Ini dapat memberi pelanggan analisis kegagalan dan layanan pengujian lengkap, membantu produsen dengan cepat dan akurat menemukan kegagalan dan menemukan akar penyebab kegagalan.