Konten Layanan
IC, sebagai komponen otomotif yang penting, merupakan area utama yang terus menjadi perhatian komite AEC. Pengujian keandalan AEC-Q100 pada IC dapat dibagi lagi menjadi keandalan stres lingkungan yang dipercepat, keandalan simulasi masa pakai yang dipercepat, keandalan pengemasan, keandalan proses wafer, verifikasi parameter listrik, penyaringan cacat, pengujian integritas pengemasan, dan kondisi pengujian perlu dipilih berdasarkan tingkat suhu yang dapat ditahan perangkat.
Verifikasi dariPengujian sertifikasi AEC-Q100memerlukan kerja sama pemasok wafer dan pabrik pengemasan dan pengujian, yang selanjutnya menguji kemampuan kontrol keseluruhan pengujian sertifikasi. RGT akan mengevaluasi IC pelanggan berdasarkan persyaratan dan standar mereka, dan menyediakan rencana sertifikasi yang wajar untuk membantu sertifikasi keandalan IC.
Siklus Uji
Sekitar 3-4 bulan.
Item Tes
|
S/N |
Item Uji |
Singkatan |
Nomor Sampel/Batch |
Nomor batch |
Metode Pengujian |
|
Uji Stres Lingkungan yang Dipercepat Grup A |
|||||
|
A1 |
Pra-pengkondisian |
komputer |
77 |
3 |
J-STD-020, |
|
JESD22-A113 |
|||||
|
A2 |
Bias Suhu-Kelembapan |
THB |
77 |
3 |
JESD22-A101 |
|
HAST yang bias |
SEGERA |
JESD22-A110 |
|||
|
A3 |
Autoklaf |
Suhu AC |
77 |
3 |
JESD22-A102 |
|
HAST yang tidak bias |
Universitas St. Louis |
JESD22-A118 |
|||
|
Suhu-Kelembapan (tanpa Bias) |
TH |
JESD22-A101 |
|||
|
A4 |
Siklus Suhu |
TC |
77 |
3 |
JESD22-A104, Lampiran 3 |
|
A5 |
Siklus Suhu Daya |
PTC |
45 |
1 |
JESD22-A105 |
|
A6 |
Umur Penyimpanan Suhu Tinggi |
Bahasa Indonesia: HSTL |
45 |
1 |
JESD22-A103 |
|
Tes simulasi kehidupan yang dipercepat Grup B |
|||||
|
B1 |
Umur Operasi Suhu Tinggi |
HTOL |
77 |
3 |
JESD22-A108 |
|
B2 |
Tingkat Kegagalan Kehidupan Awal |
ELFR |
800 |
3 |
AEC-Q100-008 |
|
B3 |
Daya Tahan NVM, Retensi Data, dan Masa Operasional |
EDR |
77 |
3 |
AEC-Q100-005 |
|
Pengujian integritas enkapsulasi Grup C |
|||||
|
C1 |
Geser Ikatan Kawat |
WBS |
30 kabel pengikat di setidaknya 5 perangkat |
AEC-Q100-001,AEC-Q003 |
|
|
C2 |
Tarik Ikatan Kawat |
WBP |
Metode MIL-STD883 2011, |
||
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C3 |
Kemampuan penyolderan |
SD |
15 |
1 |
JESD22-B102 atau J-STD-002D |
|
C4 |
Dimensi Fisik |
PD |
10 |
3 |
JESD22-B100, JESD22-B108 |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C5 |
Geser Bola Solder |
SBS |
Setidaknya 5 bola ikatan untuk 10 perangkat |
3 |
AEC-Q100-010, |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C6 |
Integritas Pemimpin |
LI |
Setidaknya 10 kabel untuk 5 perangkat |
1 |
JESD22-B105 |
|
Pengujian keandalan pembuatan wafer Grup D |
|||||
|
D1 |
migrasi listrik |
mereka |
/ |
/ |
/ |
|
D2 |
Kerusakan Dielektrik Bergantung Waktu |
Bahasa Indonesia: TDDB |
/ |
/ |
/ |
|
D3 |
Injeksi Pembawa Panas |
HCI |
/ |
/ |
/ |
|
D4 |
Ketidakstabilan Suhu Bias Negatif |
NBTI |
/ |
/ |
/ |
|
D5 |
Migrasi Stres |
SM |
/ |
/ |
/ |
|
Pengujian verifikasi kelistrikan Grup E |
|||||
|
E1 |
Fungsi/Parameter Pra dan Pasca Stres |
TES |
Semua sampel yang diperlukan untuk pengujian stres dalam pengujian listrik |
Spesifikasi pemasok atau pengguna |
|
|
E2 |
Model Tubuh Manusia Pelepasan Elektrostatik |
HBM |
Spesifikasi Uji Referensi |
1 |
AEC-Q100-002 |
|
E3 |
Model Perangkat Bermuatan Pelepasan Elektrostatik |
CDM |
Spesifikasi Uji Referensi |
1 |
AEC-Q100-011 |
|
E4 |
Kunci-Terkunci |
aku |
6 |
1 |
AEC-Q100-004 |
|
E5 |
Distribusi Listrik |
EDI |
30 |
3 |
Pertanyaan AEC100-009 |
|
AEC Q003 |
|||||
|
E6 |
Penilaian Kesalahan |
FG |
- |
- |
AEC-Q100-007 |
|
E7 |
Karakterisasi |
ARANG |
- |
- |
AEC-Q003 |
|
E9 |
Kecocokan elektromagnetik |
EMC |
1 |
1 |
Bahasa Indonesia: SAE J1752/3- |
|
E10 |
Karakterisasi Sirkuit Pendek |
Bahasa Inggris |
10 |
3 |
AEC-Q100-012 |
|
E11 |
Tingkat Kesalahan Lunak |
SER |
3 |
1 |
JEDEC |
|
JESD89-1 |
|||||
|
JESD89-2 atau JESD89-3 |
|||||
|
E12 |
Bebas Timbal (Pb) |
LF |
Spesifikasi Uji Referensi |
Spesifikasi Uji Referensi |
AEC-Q005 |
|
Uji penyaringan cacat Grup F |
|||||
|
F1 |
Pengujian Rata-rata Proses |
MENEPUK |
/ |
/ |
AEC-Q001 |
|
F2 |
Analisis Statistik Bin/Hasil |
SBA |
/ |
/ |
AEC-Q002 |
|
Pengujian integritas penyegelan dan pengemasan Grup G |
|||||
|
G1 |
Kejutan Mekanik |
MS |
15 |
1 |
JESD22-B104 |
|
G2 |
Getaran Frekuensi Variabel |
VFV |
15 |
1 |
JESD22-B103 |
|
G3 |
Percepatan Konstan |
Bahasa Inggris Raya |
15 |
1 |
Metode MIL-STD883 2001 |
|
G4 |
Kebocoran Kasar/Halus |
GFL |
15 |
1 |
Metode MIL-STD883 1014 |
|
G5 |
Paket Jatuh |
MENJATUHKAN |
5 |
1 |
/ |
|
G6 |
Torsi Tutup |
Bahasa Indonesia: SEBELUMNYA |
5 |
1 |
Metode MIL-STD883 2024 |
|
G7 |
Geser Mati |
Bahasa Inggris |
5 |
1 |
Metode MIL-STD883 2019 |
|
G8 |
Uap Air Internal |
IWV |
5 |
1 |
Metode MIL-STD883 1018 |
Tag populer: pengujian sertifikasi aec-q100, penyedia layanan pengujian sertifikasi aec-q100 di Tiongkok, analisis kegagalan karena penanganan yang tidak tepat, Analisis Kegagalan Untuk Memuaskan Tuntutan Pasar, analisis kegagalan yang efisien, Analisis Kegagalan untuk Meningkatkan Pangsa Pasar, Analisis kegagalan kelelahan, Analisis Kegagalan untuk Prototipe
